棱镜耦合测试仪

发布时间：

2026-04-20

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设备名称：棱镜耦合测试仪

设备功能：主要用于无损、快速、高精度测量光学薄膜与体材料的关键光学参数，可精确测定薄膜折射率、厚度、有效模式折射率、模式数，同时支持体材料折射率、双折射及色散特性测量，能分别完成 TE、TM 偏振模式测试以分析材料各向异性；设备可配置多波长激光器实现宽光谱色散表征，通过棱镜耦合原理无需匹配液即可完成测试，测量过程快速稳定，还可通过选配附件实现平面光波导传输损耗检测、梯度折射率分布计算以及热光系数等扩展测量，广泛适用于 SiO₂、SiN、聚合物、半导体薄膜、光学玻璃、液晶等各类波导材料与透明介质的表征，具备测量精度高、重复性好、无需复杂制样、结果自洽校验等特点。

设备参数：

分度精度：±.0002 至 ±.0005

分辨率：±.0001 至 ±.0003

折射率范围：1.0-3.35

波长范围为 405-1550 nm

设备图片：