SCIENTIFIC RESEARCH

半导体参数分析系统(4200A-SCS)

发布时间:

2026-04-20

来源:

作者:


设备名称:半导体参数分析系统(4200A-SCS)  

设备功能:半导体器件的静态/动态电学特性表征,  

设备参数: 电流测量最小分辨率100fA; 电压最小分辨率:0.2uV;温度调控范围 80K-500K

 

设备图片:

是否可提供对外服务

设备联系人:李仕龙

联系方式:13261531690


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